尊敬的業界同仁：
您好！
隨著物聯網技術的飛速發展與廣泛應用，智能終端設備作為連接物理世界與數字世界的關鍵節點，其研發與測試技術正面臨前所未有的機遇與挑戰。為促進技術交流、分享前沿成果、共探行業我們誠摯邀請您參加于2024年12月24日在上海舉辦的“物聯網與智能終端設備研發測試技術研討會”。
本次研討會將聚焦物聯網核心技術研發與智能終端設備的測試驗證，旨在搭建一個高水平的產學研用交流平臺。屆時，將邀請來自知名企業、頂尖科研院所及行業機構的專家、學者與技術領袖，圍繞以下核心議題展開深度探討與分享：
- 物聯網核心架構與通信技術演進： 探討5G/6G、NB-IoT、LoRa等低功耗廣域網技術，以及邊緣計算、霧計算在物聯網系統中的創新應用與集成挑戰。
- 智能終端設備硬件研發與創新： 分享傳感器融合、低功耗設計、嵌入式系統開發、硬件安全模塊等關鍵硬件技術的最新進展與實踐案例。
- 軟件、協議與平臺開發： 深入分析物聯網操作系統、輕量級協議、設備管理平臺、數據中臺及AIoT融合平臺的開發策略與最佳實踐。
- 綜合測試與質量保障體系： 重點研討針對物聯網設備與系統的功能、性能、互操作性、安全性、可靠性及用戶體驗的測試方法、自動化工具與標準認證。
- 行業應用與未來展望： 剖析工業物聯網、智慧城市、智能家居、車聯網等典型場景下的解決方案，并展望技術趨勢與商業模式創新。
會議詳情
- 主題： 智聯萬物，測試賦能——物聯網與智能終端研發測試技術前沿
- 時間： 2024年12月24日（星期二） 09:00 - 17:00
- 地點： 上海·浦東新區（具體地址將在確認參會后另行通知）
- 形式： 主題演講、專題論壇、技術展區、互動交流
我們相信，您的真知灼見將為本次研討會增添光彩。與會者將有機會與同行精英建立聯系，獲取最新行業洞察，共同推動物聯網技術與智能終端產業的健康發展與持續創新。
請您于2024年12月10日前通過官方渠道完成參會注冊。席位有限，期待您的蒞臨！
順祝商祺！
物聯網與智能終端設備研發測試技術研討會組委會
2024年11月
